X射線熒光的物理原理及特點(diǎn)講述

點(diǎn)擊次數(shù)：1045 更新時(shí)間：2023-04-18

當(dāng)材料*露在短波長(zhǎng)X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是*露于輻射與能源大于它的電離勢(shì)，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會(huì)“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道，以填補(bǔ)遺留下來(lái)的洞。在“回補(bǔ)”的過(guò)程會(huì)釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。

x射線熒光光譜分析儀的優(yōu)點(diǎn)：

a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)關(guān)系（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更好。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定。

c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

e) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體等都可以進(jìn)行分析。

f) 分析精密度高。

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X射線熒光的物理原理及特點(diǎn)講述